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Cover von Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe
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Verfasser: Genzel, Christoph Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 1999
Verlag: Berlin, HMI
Mediengruppe: Ausleihbestand
OPEN V 11.1.0.0