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Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe

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Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Genzel, Christoph
Jahr: 1999
Verlag: Berlin, HMI
Mediengruppe: Ausleihbestand
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Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Genzel, Christoph
Verfasserangabe: Christoph Genzel
Jahr: 1999
Verlag: Berlin, HMI
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Systematik: Suche nach dieser Systematik PH-10
Interessenkreis: Suche nach diesem Interessenskreis Dissertationen
Beschreibung: XIII, 232 S. : graph. Darst.
Schlagwörter: Physik allgemein
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Fußnote: Zugl.: Berlin, Humboldt Univ., Habil., 1999
Mediengruppe: Ausleihbestand